X射线衍射仪

简要描述：X射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密Ｘ射线结构解析等各种分析。

产品型号：XRD-7000
厂商性质：代理商
更新时间：2024-07-04
访问量：3088

产品分类

日本岛津

紫外分光光度计电子天平物理性分析元素分析与光谱仪岛津色谱非破坏检查装置气相色谱质谱联用仪GCMS ROHS检测仪查看全部产品

详细介绍

X射线衍射仪技术特点：

XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定超大型样品。不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精密化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。利用新开发的大型R-θ样品台，可以进行最大350mmφ样品全表面的自动应力成图测定。采用强大的多毛细管平行光束系统，可对应凹凸不同的样品的分析，扩大应用范围。

MAXima_X XRD-7000

配备具有0.0001°较小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的，可以选择适合分析大型样品的Ｌ型（较大350mmφ样品）和通用的S型。

XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定大型样品。
不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精细化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。